透過型/反射型ともに近赤外線に対応したテストチャート
販売終了:近赤外線用テストチャート
近赤外線(NIR/ SWIR)に対応したテストチャートです。監視カメラやスマートフォン、ToFセンサー、CMOSセンサー等における、画像認識の解像力や階調評価ツールとして御使用いただけます。
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一般形テストチャート事業撤退のお知らせ
この度長年ご愛顧を頂戴して参りました一般型テストチャートにおいて、事業を終息することとなりました。
1980年代よりテストチャート事業の展開を行って参りましたが、原材料調達先の撤退、製造装置の老朽化など厳しさが増す中、市場においても急激な縮小状況にあります。
昨年の価格値上げ等、事業継続の方向性を検討してまいりましたが、誠に遺憾ながら一般テストチャート事業を継続することが困難となったため、2024年9月30日をもちまして事業の撤退を決定いたしました。
なお、当該製品の受注に関しましては2024年8月30日にて取扱を停止とさせて頂きます。
【事業撤退製品 : 一般型テストチャート】
・SDTV用テストチャート(標準シリーズ 4:3タイプ)
・HDTV用テストチャート(ハイビジョンシリーズ 16:9タイプ)
・DNPテストチャート(4:3タイプ 及び 16:9タイプ)
・ITEテストチャート, JEITAテストチャート
・各取引先向けカスタムチャート(医療用途を除きます)
【事業撤退日】
2024年9月30日(最終受注受付日 : 2024年8月30日)
【本件に関するお問合せ先】
大日本商事株式会社 第2営業本部
TEL: 03-3288-8508
受付時間 平日 9:00~17:45
特長
■近赤外線(850/860/905/910/940/950/960/1060nm)に対応。
※1100nm以上については応相談。
■透過型/反射型ともに近赤外線に対応した各種テストチャートの作製が可能。
■可視~近赤外にて安定したスペクトルの透過率、反射率を確保。
用途例
■LiDAR、監視カメラ、暗視カメラ、ドライブレコーダー
■スマートフォン、顔認証、モーションキャプチャー
■ToFセンサー、CMOSセンサー
製品ラインアップ
近赤外用解像度チャート ※販売終了いたしました
・HD/4K/8K に対応可能
・解像度チャート
・インメガサイクルチャート
・サーキュラーゾーンチャート
※カラーチャートの埋め込みも可能
近赤外用階調チャート ※販売終了いたしました
・ITE標準11階調チャート(透過型、反射型に対応可能)
・標準サイズ:290x320㎜
※カスタムにてサイズ対応可能
濃度板 ※販売終了いたしました
・濃度5%、20%、40%、80% 、90%
※濃度、大きさ、基板はカスタム対応可能
赤外用評価用光源について ※販売終了いたしました
透過型/反射型ともに、赤外線に対応した評価用光源も提供可能ですので、お気軽にお問合わせ下さい。
技術詳細
分光透過率
透過タイプ階調チャートにおける、可視光から近赤外領域(NIR)の分光透過率測定結果です。
(製品例:ITE標準11階調チャート)
いずれの波長においても、安定した透過率を保持しております。
分光反射率
反射タイプチャートにおける、可視光から近赤外領域(NIR)の分光反射率測定結果です。
(製品例:濃度板5%、20%、80%、90%)
いずれの波長においても、安定した透過率を保持しております。